Ergebnisse für: Line Edge Roughness

Hier findest Du Bücher, die sich mit Line Edge Roughness beschäftigen.

Buch Cover Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Springer US
160.49 € · Hardcover
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Buch Cover Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM

Springer Netherland
53.49 € · Hardcover
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Buch Cover Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Springer US
160.49 € · Paperback
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Buch Cover Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM

Springer Netherland
53.49 € · eBook
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Buch Cover Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM

Springer Netherland
53.49 € · Paperback
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Buch Cover Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Springer US
149.79 € · eBook
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Buch Cover Miniaturized Transistors

MDPI
€ · Paperback
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