Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods
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Beschreibung
Autor*in
R.J. Behm
Themen in »Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods«
AFM Adsorption Epitaxy STM Vakuuminjektionsverfahren imaging microscopy spectroscopy
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Details
ISBN: 9789401578714
Verlag: Springer Netherland
Erscheinung: 09.03.2013