Electrical Detection of Hyperfine Interactions in Silicon
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Beschreibung
Autor*in
Felix Hoehne
Themen in »Electrical Detection of Hyperfine Interactions in Silicon«
Hyperfine Interactions in Silicon
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Details
ISBN: 9783941650510
Verlag: Verein zur Förderung des Walter Schottky Instituts der Technischen Universität München
Erscheinung: 12.2012