Sebastian Gautsch Gautsch Development of an Atomic Force Microscope and Measurement Concepts for Characterizing Martian Dust and Soil Particles

Development of an Atomic Force Microscope and Measurement Concepts for Characterizing Martian Dust and Soil Particles

von Sebastian Gautsch

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Autor*in

Sebastian Gautsch

Themen in »Development of an Atomic Force Microscope and Measurement Concepts for Characterizing Martian Dust and Soil Particles«

AFM Dust Mars Microtechnology

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Details

ISBN: 9783935511247
Verlag: UFO Atelier f. Gestaltung & Vlg
Erscheinung: 01.2003

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