Markus Neuhäuser Herbert Büning Ludwig A Hothorn Neuhäuser Maximum Test versus Adaptive Tests for the Two-Sample Location Problem

Maximum Test versus Adaptive Tests for the Two-Sample Location Problem

von Markus Neuhäuser Herbert Büning Ludwig A Hothorn

Preis unbekannt

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Beschreibung

Autor*in

Markus Neuhäuser

Themen in »Maximum Test versus Adaptive Tests for the Two-Sample Location Problem«

location-shift model measures of skewness and tailweight nonparametric tests

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Details

ISBN: 9783935058476
Verlag: Freie Universität Berlin Wirtschaftswissenschaften
Erscheinung: 19.12.2002

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