Wilfred N Mwema Mwema A Reliable Optimisation-based Model Parameter Extraction

A Reliable Optimisation-based Model Parameter Extraction

von Wilfred N Mwema

Approach for GaAS-based Field-Effect Transistors using Measurement-correlated Parameter Starting Values

EUR 49,00

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Beschreibung

Autor*in

Wilfred N Mwema

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Details

ISBN: 9783933146946
Verlag: Kassel University Press
Erscheinung: 09.2002

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