Intra-Valenzbandspektroskopie an SiGe-Nanostrukturen in Si
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Beschreibung
Autor*in
Christian A Miesner
Themen in »Intra-Valenzbandspektroskopie an SiGe-Nanostrukturen in Si«
Halbleiterphysik Intra-Valenzbandspektroskopie
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Details
ISBN: 9783932749384
Verlag: Verein zur Förderung des Walter Schottky Instituts der Technischen Universität München
Erscheinung: 07.11.2003