Egon Herr Herr Gate Oxide Integrity of BiMOS Power Devices

Gate Oxide Integrity of BiMOS Power Devices

von Egon Herr

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Beschreibung

Autor*in

Egon Herr

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Details

ISBN: 9783907574041
Verlag: ETH Zürich Swiss Federal Institute of Technology, Physical Electronic Laboratory
Erscheinung: 1994

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