Michael Dammann Dammann Defects in Silicon Induced by High Temperature

Defects in Silicon Induced by High Temperature

von Michael Dammann

Treatment and their Influence on MOS-Devices

EUR 30,00

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Beschreibung

Autor*in

Michael Dammann

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Details

ISBN: 9783907574034

Verlag: ETH Zürich Swiss Federal Institute of Technology, Physical Electronic Laboratory

Erscheinung: 1994

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