Simultane Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie bei 5 K im Ultrahochvakuum
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Beschreibung
Autor*in
Stefan F Hembacher
Themen in »Simultane Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie bei 5 K im Ultrahochvakuum«
Graphit Rastersondenmikroskopie Silizium qPlus tiefe Temperaturen
Stimmen zu »Simultane Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskopie bei 5 K im Ultrahochvakuum«
Details
ISBN: 9783898258739
Verlag: Winter Industries
Erscheinung: 17.12.2004