Michael Gensch Gensch Infrared ellipsometry for the investigation of interfacial layers and thin organic films on silicon

Infrared ellipsometry for the investigation of interfacial layers and thin organic films on silicon

von Michael Gensch

EUR 26,00

Buch in deiner Nähe kaufen


...oder deine aktuelle Postleitzahl eingeben:
oder

Beschreibung

Autor*in

Michael Gensch

Stimmen zu »Infrared ellipsometry for the investigation of interfacial layers and thin organic films on silicon«

Details

ISBN: 9783898209069
Verlag: Mensch & Buch
Erscheinung: 07.2005

Link teilen

Über buchnah.de | Die Buchhandlungen | Die Verlage | Impressum & Kontakt | Datenschutz | Presse


Auf dieser Seite kannst Du Buchhandlungen in der Nähe finden