Generation of Diagnostic Memory Tests and On-Chip Test Application with Special Consideration of Embedded Memories in Systems-on-Chips
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Beschreibung
Die fortschreitende Miniaturisierung der Strukturgr¨oßen von CMOS Schaltungen auf Silizium-Substraten ermöglicht die Einbettung von Speichern mit hoher Kapazität in Mikroprozessoren und ähnlich komplexe mikroelektronische Schaltungen.
Der prozentuale Anteil der Transistoren, die auf die eingebetteten Speicher entfallen, ist stetig steigend, so daß diese Speicher eine Hauptfehlerquelle in modernen integrierten Schaltungen darstellen. Zur Erhöhung der Ausbeute ist es daher notwendig Fehler in defekten Speichern vollständig zu detektieren, lokalisieren und temporär oder dauerhaft zu reparieren. Aus wirtschaftlichen
Gesichtspunkten ist eine automatisierte Reparaturstrategie basierend auf eingebauter Schaltungstechnik einer externen Reparatur vorzuziehen. Diese Dissertation beschäftigt sich mit den folgenden drei Teilproblemen des Tests und der Diagnose von eingebauten Speichern: Der Erzeugung von diagnostizierenden
Speichertests, der Erfassung von Fehlerdaten für die Fehlerdiagnose, und des Tests von nichtklassischen Speicherfehlern unter Zuhilfenahme von Tests mit linearer Testlänge.
Autor*in
Tom Niggemeyer