Rasternahfeldmikroskopie an einzelnen In₀,₄Ga₀,₆As/GaAs-Quantenpunkten
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Beschreibung
Autor*in
Ingo S Manke
Themen in »Rasternahfeldmikroskopie an einzelnen In₀,₄Ga₀,₆As/GaAs-Quantenpunkten«
Nahfeld Quantenpunkte Rastersondenmikroskopie Stark-Effekt
Stimmen zu »Rasternahfeldmikroskopie an einzelnen In₀,₄Ga₀,₆As/GaAs-Quantenpunkten«
Details
ISBN: 9783896853950
Verlag: Wissenschaft & Technik
Erscheinung: 09.2002