Heike Hinsen Hinsen Automatische Testgenerierung für CMOS-Fehler durch Modifikation des FAN-Algorithmus

Automatische Testgenerierung für CMOS-Fehler durch Modifikation des FAN-Algorithmus

von Heike Hinsen

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Beschreibung

Autor*in

Heike Hinsen

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Details

ISBN: 9783884571941

Verlag: GMD-Forschungszentrum Informationstechnik

Erscheinung: 1991

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