M Ritter Ritter A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes

A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes

von M Ritter

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Beschreibung

Autor*in

M Ritter

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Details

ISBN: 9783865096302
Verlag: Fachverlag NW in Carl Ed. Schünemann KG
Erscheinung: 12.03.2007

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