On the Handling of Uncertainty in Test Pattern Generation
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Beschreibung
Autor*in
Dominik Erb
Themen in »On the Handling of Uncertainty in Test Pattern Generation«
ATPG Interconwect open defects SAT Test pattern generation Unknowns
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Details
ISBN: 9783862475711
Verlag: Der Andere Verlag
Erscheinung: 25.05.2016