Interconnect Reliability and Test
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Beschreibung
Autor*in
Stefan Hillebrecht
Themen in »Interconnect Reliability and Test«
Leiterbahnunterbrechung MEMS Sensor design Testmuster Testmustergenerierung Zuverlässigkeit
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Details
ISBN: 9783862470143
Verlag: Der Andere Verlag
Erscheinung: 06.2010