Peter Baumann Baumann Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

von Peter Baumann

Simulation mit PSPICE

EUR 15,28

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Beschreibung

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

 

Der Inhalt

Halbleiterdioden – Bipolartransistoren – Sperrschicht-Feldeffekttransistoren – Mos-Feldeffekttransisotoren – Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor – Operationsverstärker – Optokoppler

 

Die Zielgruppen

Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten

Ingenieure und Physiker in der Praxis

 

Der Autor

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.


Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.


Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler Includes supplementary material: sn.pub/extras

Autor*in

Peter Baumann

Themen in »Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen«

Bipolartransistor Feldeffekttransistor Halbleiterdiode OrCAD-PSPICE SPICE-Modellparameter Sperrschickt-Feldeffekttransistor

Stimmen zu »Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen«

Details

ISBN: 9783834824950
Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH
Erscheinung: 28.09.2012

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