Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren
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Beschreibung
Autor*in
Chi Dong Nguyen
Themen in »Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren«
Bauelementsimulation Kanalbeweglichkeit MOSFETs Quanteneffekte Verspanntes Silizium
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Details
ISBN: 9783832513061
Verlag: Logos Berlin
Erscheinung: 08.2006