Testbarkeit von Mixed-Signal Systemen am Beispiel sequentieller A/D-Wandler
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Beschreibung
In nahezu allen integrierten Systemen sind analoge und digitale
Schaltungskomponenten gemischt vorhanden. Um eine vollständige Funktion der
entwickelten Schaltung garantieren und verifizieren zu können sind bei
komplexen Mixed-Signal Systemen oft große Schaltungsteile dem Test und der
Analyse gewidmet. Aus diesem Grunde ist der Aspekt des Testens
schon während der Entwicklungsphase von großer Bedeutung und beansprucht
einen erheblichen Anteil am Designaufwand.
Zum Verständnis der Fehlerausbreitung in komplexen Systemen
ist eine umfangreiche Testumgebung notwendig, mit der die Funktion der einzelnen Zwischenkomponenten geprüft werden kann. Idealerweise können
Signalverläufe im Betrieb überwacht werden. Die Testumgebung sollte
zusätzlich über die Möglichkeit verfügen, einzelne Systemanteile separat und unabhängig zu testen. Die einzelnen Komponenten können dann über die Definition von unterschiedlichen Betriebszuständen des Mixed-Signal Systems vollständig charakterisiert werden.
Hier werden verschiedene integrierte Mixed-Signal Systeme mit speziell angepassten Testumgebungen und deren Meß- und Analysemöglichkeiten vorgestellt.
Am Beispiel sequentieller A/D-Wandler werden klassische Mixed-Signal Systeme vorgestellt. Das Subretinale Augenimplantat stellt ein großes analoges System dar, welches mittels der Testumgebung vollständig charakterisiert werden kann.
Durch die sorgfältige Auslegung einer Testumgebung kann die schnelle Entwicklung von komplexen Mixed-Signal Systemen, wie sie heutzutage immer häufiger zum
Einsatz kommen, maßgeblich unterstützt werden.
Autor*in
Alexander Dollberg
Themen in »Testbarkeit von Mixed-Signal Systemen am Beispiel sequentieller A/D-Wandler«
Analog-Digital Wandler Mixed-Signal System Retinaimplantat Testbarkeit Testumgebung