Chee Hong Liau Liau Computational Intelligence-based Testing for Robust Circuit Design

Computational Intelligence-based Testing for Robust Circuit Design

von Chee Hong Liau

EUR 48,80

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Beschreibung

Autor*in

Chee Hong Liau

Themen in »Computational Intelligence-based Testing for Robust Circuit Design«

Circuit Analysis Circuit Verification Measurement Noise Analysis Robustness Testing

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Details

ISBN: 9783832254353
Verlag: Shaker
Erscheinung: 09.2006

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