von Ulrich Ellerkmann
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Beschreibung
Autor*in
Ulrich Ellerkmann
Themen in »Impact of the interface capacity on failure mechanisms and size effects in ferroelectric thin films«
BST
Fatigue
Imprint
PZT
Tunability
Stimmen zu »Impact of the interface capacity on failure mechanisms and size effects in ferroelectric thin films«
Details
ISBN: 9783832250539
Verlag: Shaker
Erscheinung: 05.2006