Far-infrared spectroscopic ellipsometry on AIII BV semiconductor heterostructures

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Autor*in

Tino Hofmann

Themen in »Far-infrared spectroscopic ellipsometry on AIII BV semiconductor heterostructures«

Dielektrische Funktion Experimentelle Physik Freie Ladungsträger Heterostruktur Verbindungshalbleiter

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