Huaguo Liang Liang A New Technique for Deterministic Scan-Based Built-In Self-Test (BIST)

A New Technique for Deterministic Scan-Based Built-In Self-Test (BIST)

von Huaguo Liang

EUR 45,80

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Beschreibung

Autor*in

Huaguo Liang

Themen in »A New Technique for Deterministic Scan-Based Built-In Self-Test (BIST)«

Built-in self test Datenkompression Entwurfsautomation Testmustergenerator Zufallsgenerator Zählerautomat

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Details

ISBN: 9783832215927
Verlag: Shaker
Erscheinung: 2003

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