Michael Treu Treu Stabilität von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf hexagonalem Siliciumkarbid

Stabilität von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf hexagonalem Siliciumkarbid

von Michael Treu

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Beschreibung

Autor*in

Michael Treu

Stimmen zu »Stabilität von Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen auf hexagonalem Siliciumkarbid«

Details

ISBN: 9783826562532
Verlag: Shaker
Erscheinung: 1999

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