$Qiuming Liu Liu Characterization of GaInP/GaAs and GaInP/InP heterostructures by means of x-ray diffractometry and photoluminescence$

Characterization of GaInP/GaAs and GaInP/InP heterostructures by means of x-ray diffractometry and photoluminescence

von Qiuming Liu

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Beschreibung

Autor*in

Qiuming Liu

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Details

ISBN: 9783826511929

Verlag: Shaker

Erscheinung: 1996

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