Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
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Beschreibung
Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle gängigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar.
Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind, inklusive moderner Methoden basierend auf neuronalen Faltungsnetzen.
Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenhänge wirklich versteht und das "große Bild" des Fachgebietes erkennt. Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verständnis keiner ergänzenden Literatur.
Die 3. Auflage wurde an vielen Stellen verbessert und unter anderem durch die detaillierte Einführung von neuronalen Faltungsnetzen auf den aktuellen Stand der Technik aktualisiert.
Der Inhalt
Teil I: Bildgewinnung - Licht - Optische Abbildung - Radiometrie - Farbe - Sensoren zur Bildgewinnung - Bildaufnahmeverfahren - Teil II: Bildauswertung - Bildsignale - Neuronale Faltungsnetzwerke - Vorverarbeitung und Bildverbesserung - Bildrestauration - Segmentierung - Morphologische Bildverarbeitung - Texturanalyse - Detektion - Multiskalenanalyse
Die Zielgruppen
Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik.
Die Autoren
Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer leitet in Personalunion den Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und das Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB).
Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León (†2020) lehrte und forschte zuletzt am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und leitete dort das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT).
Dr.-Ing. Christian Frese ist wissenschaftlicher Mitarbeiter am Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB).
Dr.-Ing. Johannes Meyer ist wissenschaftlicher Mitarbeiter am Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB) und leitet dort die Forschungsgruppe Variable Bildgewinnung und -verarbeitung (VBV).
Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle gängigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar.
Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind.
Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenhänge wirklich versteht und das "große Bild" des Fachgebietes erkennt. Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verständnis keiner ergänzenden Literatur.
Die 3. Auflage wurde an vielen Stellen verbessert und unter anderem durch die detaillierte Einführung von neuronalen Faltungsnetzen auf den aktuellen Stand der Technik aktualisiert.
Die Zielgruppen
Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik.
Einziges Lehrbuch mit Schwerpunkt automatische Sichtprüfung Buch ermöglicht umfassendes Verständnis von automatischer Bildgewinnung und –auswertung Mit methodischem Tiefgang, wissenschaftlicher Gründlichkeit und Bezug auf die systemtheoretischen Zusammenhänge
Autor*in
Jürgen Beyerer
Themen in »Automatische Sichtprüfung«
Automated Visual Automatische Inspektion Automatische Sichtprüfung Bildauswertung Bildverarbeitung Industrial Machine Vision Inspection Optische Inspektion Optische Messtechnik Optische Qualitätsprüfung