Lee Pattern Recognition with Support Vector Machines

Pattern Recognition with Support Vector Machines

von

First International Workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings

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Beschreibung

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Autor*in

Seong-Whan Lee

Themen in »Pattern Recognition with Support Vector Machines«

Classifier Systems Kernel Methods Learning Algorithms Learning from Examples Object Recognition Statistical Learning Support Vector Machine Support Vector Machines Textur Trainable Systems algorithms data mining learning optimization pattern recognition

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Details

ISBN: 9783540456650
Verlag: Springer Berlin
Erscheinung: 02.08.2003

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