Dieses Lehrbuch für Studierende der Elektro- und Informationstechnik behandelt die systemtechnischen und systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik. Es werden die allen Messsystemen gemeinsamen Verfahren in den Vordergrund gestellt, die
- das physikalische Verhalten durch ein mathematisches Modell beschreiben,
- statischen und dynamischen Eigenschaften von Messsystemen verbessern,
- stochastische Größen messen und
- Daten im Digitalrechner erfassen.
Für eine bessere Anknüpfung an die Theorie stochastischer Prozesse wurden die theoretischen Grundlagen und systematische Einteilung von Signalklassen zusammengefasst. Der Begriff der Leistungsdichte wird eingeführt und das Wiener Filter vorgestellt. Weitere Themen sind eine umfassende systemtheoretische Beschreibung von Fehlern bei der digitalen Messdatenerfassung sowie die Erfassung von frequenzanalogen Signalen.
Mit zahlreichen Beispielen und Abbildungen.
Dieses Lehrbuch behandelt die systemtechnischen und systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik. Im Vordergrund stehen Verfahren, die allen Messsystemen gemeinsam sind. Dazu gehören Messtechniken, die das physikalische Verhalten durch ein mathematisches Modell beschreiben, die Eigenschaften von Messsystemen verbessern, stochastische Größen messen und Daten im Digitalrechner erfassen. Durch die Zusammenfassung theoretischer Grundlagen mit der systematische Einteilung von Signalklassen wird an die Theorie stochastischer Prozesse angeknüpft. Der Begriff der Leistungsdichte wird eingeführt und das Wiener Filter vorgestellt.
Uwe Kiencke
Automatisierung Filter Frequenz Korrelationsmesstechnik Leistung Leistungsdichte Messen Messfehler Messtechnik Modell Signal Signale Signalklassen Wiener Filter analog
Aus den Rezensionen zur 6. Auflage:
"Uwe Kiencke und Ralf Eger behandeln die systemtechnischen und systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik. Es werden die allen Messsystemen gemeinsamen Verfahren in den Vordergrund gestellt, die das physikalische Verhalten durch ein mathematisches Modell beschreiben, statische und dynamische Eigenschaften von Messsystemen verbessern, stochastische Größen messen und Daten im Digitalrechner erfassen. … Die vorliegende sechste Ausgabe ist vollständig korrigiert."
(in: F&M Mechatronik, 2007, Issue 3-4, S. 66)