Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V
Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
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Beschreibung
Autor*in
Alfred Benninghoven
Themen in »Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V«
Atom Diffusion Sorption adsorption catalyst chemistry crystal hydrogen isotope mass spectrometry materials science metals microscopy spectrometry structure
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Details
ISBN: 9783540162636
Verlag: Springer Berlin
Erscheinung: 01.04.1986