Defect Complexes in Semiconductor Structures
Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 – 17, 1982
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Beschreibung
Autor*in
J. Giber
Themen in »Defect Complexes in Semiconductor Structures«
Gitterfehler Halbleiter Structures crystal crystallographic defect diffusion electron microscopy semiconductor
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Details
ISBN: 9783540119869
Verlag: Springer Berlin
Erscheinung: 01.02.1983