Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Instrumentation, Data Analysis and Applications
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Beschreibung
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Autor*in
Andrew T. S. Wee
Themen in »Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials«
Chemie Chemistry Dünne Schicht Ellipsometrie Festkörperchemie Materials Characterization Materials Science Materialwissenschaften Solid State Chemistry Spectroscopy Spektroskopie Werkstoffprüfung