Surface Analysis with STM and AFM
Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis
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Beschreibung
Rastertunnelmikroskopie (STM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) sind unentbehrlich für die Charakterisierung von Oberflächen. In der Vergangenheit wurden die experimentell erhaltenen Daten jedoch oftmals falsch interpretiert. Anhand konkreter Beispiele gibt dieses Buch eine fundierte Einführung in die Wechselseitige Beeinflussung von Theorie, Bildsimulation und Aufnahmebedingungen, die für eine korrekte Interpretation von experimentell erhaltenen Daten unerläßlich ist. Behandelt werden unter anderem:
Anorganische Schichtstrukturen
Organische Leiter
Organische Adsorbate an Flüssig-Festen-Grenzflächen
Amphiphile
Polymere
Ein Theoretiker und ein Praktiker haben hier ihre Expertise kombiniert - das Resultat ist ein praxisorientiertes Buch, für alle Wissenschaftler, die sich mit der Aufnahme und Interpretation STM- uns AFM-Daten beschäftigen.
Autor*in
Sergei N. Magonov
Themen in »Surface Analysis with STM and AFM«
Bildanalyse (EDV) Chemie Chemistry Communication Technology Electrical & Electronics Engineering Elektrotechnik u. Elektronik Festkörper Festkörperphysik Kommunikationstechnik Materials Characterization Materials Science Materialwissenschaften Mikroskopie Physical Chemistry Physics