Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung
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Beschreibung
Autor*in
Uwe Hübner
Stimmen zu »Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung«
Details
ISBN: 9783486229264
Verlag: Oldenbourg Wissenschaftsverlag
Erscheinung: 1994