Gottfried Wilhelm Ehrenstein Lothar Engel Hermann Klingele Helmut Schaper Ehrenstein Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure

Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure

von Gottfried Wilhelm Ehrenstein Lothar Engel Hermann Klingele Helmut Schaper

Rasterelektronenmikroskopie von Kunststoffschäden

EUR 179,99

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Beschreibung

Kunststoffe unter dem Mikroskop
Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM erzielbaren Auflösungen in Brüchen und Oberflächenstrukturen lassen die Mechanik der Schädigungsvorgänge deutlicher erkennen. In Verbindung mit den Untersuchungsergebnissen über die chemische Zusammensatzung von Werkstoffen und Belägen können weitere Aufschlüsse über Schädigungsmechanismen gewonnen werden.
Diese umfangreiche Sammlung von REM Aufnahmen und ihren Beschreibungen ist ein wertvolles Hilfsmittel für den Ingenieur im Betrieb, der Ursachen von Schäden auffinden und sein spezielles REM Schadensbild einordnen will. Die Erscheinungsformen der Schädigungen sind ausführlich dargestellt und werden sachgerecht beschrieben und interpretiert.
Einzigartige Zusammenstellung von REM-Aufnahmen
Mit Beispielen aus allen wichtigen Bereichen der Kunststoffverarbeitung
Autor zählt zu den führenden Experten auf dem Gebiet

Autor*in

Gottfried Wilhelm Ehrenstein

Themen in »Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure«

Kunststoffe Kunststoffprüfung Schadensanalyse

Stimmen zu »Scanning Electron Microscopy of Plastics Failure«

Details

ISBN: 9783446437043
Verlag: Hanser, Carl
Erscheinung: 01.01.2020

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