Entwurf selbsttestbarer Schaltungen
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Beschreibung
Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.
Autor*in
Albrecht P. Ströle
Themen in »Entwurf selbsttestbarer Schaltungen«
Einheit Entwurf Fehler Fertigung Forschung Halbleiterfertigung Hardware-Strukturen Methoden Mustererzeugung Planung Schieberegister Testprobleme Teststrategien Testverfahren Verfahren