Theo Siegrist Siegrist X-Ray Structure Analysis

X-Ray Structure Analysis

von Theo Siegrist

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Beschreibung

This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed.


Autor*in

Theo Siegrist

Themen in »X-Ray Structure Analysis«

Crystallography Group theory Symmetry X-ray diffraction

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Details

ISBN: 9783110610703
Verlag: De Gruyter
Erscheinung: 22.11.2021

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