Seiler Characterization and Metrology for ULSI Technology: 1998 International Conference

Characterization and Metrology for ULSI Technology: 1998 International Conference

von

National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg MD, 23-27 March 1998

Preis unbekannt

Buch in deiner Nähe kaufen


...oder deine aktuelle Postleitzahl eingeben:
oder

Beschreibung

Autor*in

D. G. Seiler

Stimmen zu »Characterization and Metrology for ULSI Technology: 1998 International Conference«

Details

ISBN: 9781563968686
Verlag: AIP Press
Erscheinung: 1998

Link teilen

Über buchnah.de | Die Buchhandlungen | Die Verlage | Impressum & Kontakt | Datenschutz | Presse


Auf dieser Seite kannst Du Buchhandlungen in der Nähe finden