Residual Stress
Measurement by Diffraction and Interpretation
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Beschreibung
Autor*in
Ismail C. Noyan
Themen in »Residual Stress«
Absorption CIM Filter Fitting Fundament Goniometer Hardware Industrie Information Kristallographie Monochromator Peak Phase Profil Röntgenstrahlung
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Details
ISBN: 9780387963785
Verlag: Springer US
Erscheinung: 24.08.1987