Sigmund Weissmann Francoise Balibar Jean-Francois Petroff Weissmann Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science

Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science

von Sigmund Weissmann Francoise Balibar Jean-Francois Petroff

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Beschreibung

Autor*in

Sigmund Weissmann

Themen in »Applications of X-Ray Topographic Methods to Materials Science«

X-ray materials science

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Details

ISBN: 9780306418389
Verlag: Springer US
Erscheinung: 01.12.1984

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